THIELE/SMALL参数
简称T/S参数
T/S参数是由THIELE和SMALL先生首先提出的扬声器系统数学模型的基本参数，相应的文献分别是1961年和1972年发表的，Thiele, A.N., “Loudspeakers in Vented Boxes,” Proc. IREE (Australia), vol. 22, p. 487 (1961 Aug.); also
J. Audio Eng. Soc., vol. 19, pp. 382-392 (1971 May) and pp. 471-483 (1971 June).
Small, R.H., “Direct-Radiator Loudspeaker System Analysis,” J. Audio Eng. Soc., vol. 20, pp. 383-395
(1972 June).。T/S参数对扬声器系统（音箱）设计具有划时代的指导意义，在此参数出现之前，设计音箱仍然处于实验法探索(就是不断换单元和换箱体）的阶段,没有真正的科学依据！在该参数提出后，从此音箱设计进入了科学时代，设计音箱可以根据给定低音单元的T/S参数来计算箱体的容积，调谐频率，甚至模拟出音箱的频响，相位和阻抗，目前几乎所有常见的电声测试系统、扬声器系统设计软件都支持该参数。T/S参数由小信号参数和大信号参数组成。
小信号参数包括四个基本参数：
Fs为扬声器单元的谐振频率。
Vas为扬声器单元的等效容积。
Qes为扬声器单元的电Q值。
Qms为扬声器单元的机械Q值。
大信号参数包括两个基本参数：
Pe（max）为扬声器单元的散热能力所确定的最大功率额定值。
Vd为扬声器单元振膜在最大振幅时所推动的体积。
在AES标准中的附件D中低音单元部分详细列出了该参数。
纵观国内的整个电声行业，运用T/S参数进行音箱设计的工厂大部分仍是民用音箱工厂，在专业音箱工厂中对T/S参数仍然运用不多，包括很多国内专业单元厂甚至不知T/S参数为何物，很多音箱厂也同样存在不懂T/S参数的情况！仍然处于实验法的阶段。很多国内的专业单元没有提供T/S参数，对于有经验的音箱厂可以自行测试，以指导音箱设计。具体测试T/S参数的仪器包括CLIO、MLSSA、LMS、DAAS等等，SMAART,EASERA这些软件主要用于系统调试，虽然可以测试阻抗曲线，但不具备T/S参数的测试功能。
T/S参数是由THIELE和SMALL先生首先提出的扬声器系统数学模型的基本参数，相应的文献分别是1961年和1972年发表的，Thiele, A.N., “Loudspeakers in Vented Boxes,” Proc. IREE (Australia), vol. 22, p. 487 (1961 Aug.); also
J. Audio Eng. Soc., vol. 19, pp. 382-392 (1971 May) and pp. 471-483 (1971 June).
Small, R.H., “Direct-Radiator Loudspeaker System Analysis,” J. Audio Eng. Soc., vol. 20, pp. 383-395
(1972 June).。T/S参数对扬声器系统（音箱）设计具有划时代的指导意义，在此参数出现之前，设计音箱仍然处于实验法探索(就是不断换单元和换箱体）的阶段,没有真正的科学依据！在该参数提出后，从此音箱设计进入了科学时代，设计音箱可以根据给定低音单元的T/S参数来计算箱体的容积，调谐频率，甚至模拟出音箱的频响，相位和阻抗，目前几乎所有常见的电声测试系统、扬声器系统设计软件都支持该参数。T/S参数由小信号参数和大信号参数组成。
小信号参数包括四个基本参数：
Fs为扬声器单元的谐振频率。
Vas为扬声器单元的等效容积。
Qes为扬声器单元的电Q值。
Qms为扬声器单元的机械Q值。
大信号参数包括两个基本参数：
Pe（max）为扬声器单元的散热能力所确定的最大功率额定值。
Vd为扬声器单元振膜在最大振幅时所推动的体积。
在AES标准中的附件D中低音单元部分详细列出了该参数。
纵观国内的整个电声行业，运用T/S参数进行音箱设计的工厂大部分仍是民用音箱工厂，在专业音箱工厂中对T/S参数仍然运用不多，包括很多国内专业单元厂甚至不知T/S参数为何物，很多音箱厂也同样存在不懂T/S参数的情况！仍然处于实验法的阶段。很多国内的专业单元没有提供T/S参数，对于有经验的音箱厂可以自行测试，以指导音箱设计。具体测试T/S参数的仪器包括CLIO、MLSSA、LMS、DAAS等等，SMAART,EASERA这些软件主要用于系统调试，虽然可以测试阻抗曲线，但不具备T/S参数的测试功能。
观众反应
